La diffrazione a raggi (XRD) è una tecnica non distruttiva di analisi strutturale che si avvale di una fonte di raggi x per eccitare gli atomi del materiale e di un rilevatore per catturare un'immagine della diffusione di raggi x (schema a diffrazione), causato dall'interazione con la sostanza cristallina del materiale. Attraverso le posizioni e le intensità dei raggi x derivate dalla diffusione è possibile identificare una sostanza come se si rilevasse la sua impronta digitale. Per determinare la concentrazione della fase (composto) si può utilizzare l'analisi di rapporti di intensità o analisi mediante metodo Rietveld. L’analisi dei profili di diffrazione offre inoltre importanti informazioni sulla dimensione dei cristalliti dei materiali, separazione di fase, purezza delle sostanze.

La fluorescenza a raggi x (XRF) è una tecnica di analisi elementare che si avvale di una fonte di raggi x per eccitare gli atomi di un materiale con un'energia sufficiente per allontanare gli elettroni degli orbitali più interni, e di un rilevatore che misura le energie caratteristiche rilasciate quando gli elettroni degli orbitali più esterni di un elemento cambiano il livello dell'orbitale per riacquistare stabilità. Un elemento è identificato attraverso i segnali di energie caratteristiche (keV) e l'intensità dei segnali sono usati per determinare la concentrazione elementare.

Prof.ssa Carla de Leitenburg

Dr. Rosario figliolia